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主营产品:铁素体含量检测仪铁素体测试仪铁素体测量仪铁素体测定仪超声波探伤仪色彩色差仪钢筋扫描仪X射线测厚仪紫外线灯高温耦合剂
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X射线测厚仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: X射线测厚仪
产品型号: FISCHERSCOPE? X-RAY XDL? 210
产品展商: 德国菲希尔fischer
关注指数:11119
产品文档: 无相关文档

简单介绍
X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE?-X-RAY XDL-210是一款应用广泛的能量色散型x 射线光谱仪。它是从大众认可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型仪器上发展而来的。与上一代相类似,它尤其适合无损测量镀层厚度及材料分析,同时还能全自动测量大规模生产的零部件及印刷线路板。

X射线测厚仪的详细介绍

X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210又名X 射线荧光光谱仪,采用手动或自动方式,测量和分析印刷线路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能实现高计数率,这样?#28034;?#20197;进行高精度测量。由于采用了Fischer 基本

参数法,无论是镀层系统还是固体和液体样品,都能在没有标?#35745;?#30340;情况下进行分析

和测量。*多可同时测量从氯(17)到铀(92)中的24 种元素。


XDL 型X 射线光谱仪有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

XDL 系列仪器特别适用于客户经行质量控制、进料检验和生产流程监控。

X
射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210典型的应用领域有:

? 测量大规模生产的电镀部件

? 测量薄镀层,例如装饰铬

? 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

? 全自动测量,如测量印刷线路板

? 分析电镀溶液

X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 设计为界面友好的台式测量仪器系列。我们会根据样

品平台的运行模式以及固定或者可调节的Z 轴系统来设定不同型号的仪器以满足实际

应用的需求。

XDL210:平面样品平台,固定的Z 轴系统

高分辨率的彩色视频摄像头具备?#30475;?#30340;放大功能,可以精-确定位测量位置。通过视频

窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配有马达驱动X-Y 样品平台的仪器还配备了

激光点,可以辅助定位并快速对准测量位置。

测量箱底部的开槽专为大而扁平的样品设计,可以测量比测量箱更长和更宽的样品。

例如大型的线路板。

所有的操作,测量数据的计算,以及测量数据报表的清晰显示都是通过?#30475;?#32780;界面友

好的WinFTM®软件在电脑上完成的。

XDL 型光谱仪是安-全而保护**的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche

R?ntgenverordnung-R?V”法规规定。

X
射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210通用规范

用途

能量色散X 射线荧光光谱仪 (EDXRF) 用来测量薄镀层和微小结构,分析合金和微量组分。

元素范围 *多同时测量从氯(Cl 17)到铀(U 92)之间的24 种元素

设计理念 台式仪器,测量门向上开启

测量方向 ?#30001;系?#19979;

X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210X 射线源

X 射线源 带铍窗口的钨管

高压 三种高压: 30 kV,40 kV,50 kV,可调整

孔径(准直器) ? 0.3 mm (可选:圆形? 0.1 mm; ? 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm)

测量点

取决于测量距离及使用 的准直器大小;实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致。

*小的测量点大小约? 0.16mm.

测量距离,如测量腔体内部

0 ~ 80 mm,未校准范围,使用砖利保护的DCM 功能

0 ~ 20 mm,已校准范围, 使用砖利保护的DCM 功能

X 射线探测

X 射线接收器 比例接收器

样品定位

视频显微镜

高分辨 CCD 彩色摄像头, 用于查看测量位置

手动调焦或自动聚焦

十字线刻度和测量点大小经过校准

测量区域照明亮度可调

激光点用于精-确定位样品

放大倍数 20x ~ 180x (光学变焦: 20x ~ 45x; 数字变焦: 1x, 2x, 3x, 4x)

样品台 XDL 210

设计 固定式样品平台

*-大移动范围 -

X/Y 平台移动速度 -

X/Y 平台移动重复精度 -

Z 轴移动范围 -

可用样品放?#20204;?#22495; 463 x 500 mm

样品*-大重量 20 kg

样品*-大高度 155/90/25 mm

激光定位点 -

FISCHERSCOPE X-RAY XDL

镀层厚度 材料分析 显微硬度 材料测试


电气参数

电压,频率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz

功率 *-大 120 W (?#35805;?#25324;计算机)

保护等级 IP40


X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210仪器规格

外部尺寸 宽x 深x 高[mm]:570 x 760 x 650

重量 XDL210:90 kg;XDL220:95 kg ;XDL230:105 kg;XDL240:120 kg

内部测量?#39029;?#23544; 宽x 深x 高[mm]: 460 x 495 (参考“样品*-大高度”部分的说明)

环境要求

操作温度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F

储藏或运输温度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空气湿度 ≤ 95 %,无结露


计算系统

计算机 带扩展卡的计算机系统

软件

标准: WinFTM® V.6 LIGHT

可选: WinFTM® V.6 BASIC,PDM,SUPER


X射线测厚仪|X-RAY镀层分析仪|菲希尔X射线光谱仪FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210执行标准,CE 合格标准 EN 61010

X 射线标准 DIN ISO 3497 和 ASTM B 568


型式许可

-全而保护**的测量仪器,型式许可符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”

法规规定。

如有特殊要求,可于Fischer 磋商,定制特殊的XDL 型号。

 

涂装 相关仪器:涂层漆膜度测电解膜黏度计/度计X线附着微型分光雾影反射率涂膜干时间记录仪标准光源


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