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主营产品:铁素体含量检测仪铁素体测试仪铁素体测量仪铁素体测定仪超声波探伤仪色彩色差仪钢筋扫描仪X射线测厚仪紫外线灯高温耦合剂
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菲希尔x-ray荧光光谱仪

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如果您对该产品感兴趣的话,可以 产品名称: 菲希尔x-ray荧光光谱仪
产品型号: FISCHERSCOPE ?X-RAY XDL ?230
产品展商: 德国菲希尔fischer
关注指数:228
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简单介绍
菲希尔x-ray荧光光谱仪/X射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ?X-RAY XDL ?230是德国菲希尔fischer公司XDL系列机型中性价比*高的一款,相比XDL-210*主要的优势在于X轴和Y轴方向可以手动调节,大大方便了测量的便捷性。菲希尔x-ray荧光光谱仪XDL-230还可以通过可编程XY工作台与Z轴(可选)实现自动化的批量测试。XDL-230菲希尔x-ray荧光光谱仪以优异的性能被选为国内各省电科院/国家电网技能比武指定使用机型。

菲希尔x-ray荧光光谱仪的详细介绍

菲希尔x-ray荧光光谱仪/X射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板?#31995;?#38208;层。FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230射线荧光仪器可配备多种硬件组?#24076;?#21487;完成各种测量任务,由于测量距离可以调节(*大可达 80 mm),适用于测试已布元器件的电路板或腔体结构的部件。使用具有高能量分辨?#23454;?#30789;漂移探测器,非常适用于测量超薄镀层(XDAL 设备)。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230设计理念:

1,FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台,马达驱动的 Z 轴系统。

2,高分辨?#23454;?#24425;色视频摄像头具备?#30475;?#30340;放大功能,可以精-确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。

3,测量箱底部?#30446;?#27133;是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器?#28034;?#20197;测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。

4,带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并?#20197;?#35768;测量点的精-确调整。

5,所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能?#30475;?#32780;界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。

6,XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法规的规定。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230基本应用:

1,镀层厚度测量

大型电路板与柔性电路板?#31995;?#38208;层测量

电路板上较薄的导电层和/或隔离层

复杂几何形状产品?#31995;?#38208;层

铬镀层,如经过装饰性镀铬处理的塑料制品

氮化铬 (CrN)、氮化钛 (TiN) 或氮碳化钛 (TiCN) 等硬质涂层厚度测量

2,材料分析

电镀槽液分析

电子和半导体行业中的功能性镀层分析


菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控,典型的应用领域有:

?  测量大规模生产的电镀部件

?  测量超薄镀层,例如:装饰铬

?  测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

?  测量印刷线路板

?  分析电镀溶液

XDL230 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率,这样?#28034;?#20197;进行高精度测量。由于采用了 FISCHER 完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标?#35745;?#30340;情况下进行测量和分析。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230规格概述:

1、通用规格

  a,设计用途?#32791;?#37327;色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。

  b,元素范围:从元素 氯(17) 到 铀(92),配有可选的 WinFTM® BASIC 软件?#20445;?多可同时测定 24 种元素。

  c,设计理念  台式仪器,测量门向上开启

  d,测量方向  由上往下

2、X射线源

  a,X 射线管:带铍窗口的钨管

  b,高压:三档30 kV,40 kV,50 kV

  c,孔径(准直器):? 0.3 mm 可选:? 0.1 mm; ? 0.2 mm;长方形 0.3 mm x 0.05 mm

  d,测量点尺寸:取决于测量距离及使用的准直器大小,实?#23454;?#27979;量点大小与视频窗口中显?#38236;?#19968;致*小的测量点大小约? 0.2mm

3、X射线探测

  X 射线接收器:比例接收器

  测量距离:0 ~ 80 mm,使用砖利保护的 DCM 测量距离补偿法

4、样品定位

  a,视频系?#24120;?#39640;分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置,手动聚焦,对被测位置进行监控,十字线(带有经过校准?#30446;?#24230;和测量   点尺寸),可调节亮度的LED照明,激光光点用于精-确定位样品。

  b,放大倍数:40x–160x

5、电气参数

  电源要求:220 V ,50 Hz

  功率:*大 120 W(?#35805;?#25324;计算机)

  保护等级:IP40

6、尺寸规格

  外部尺寸:宽×深×高[mm] 570×760×650

  内部测量?#39029;?#23544;:宽×深×高[mm] 460×495x(参考“样品*大高度”部分的说明)

  重量:107 kg

7、环境要求

  使用时温度:10°C – 40°C

  存储或运输时温度:0°C – 50°C

  空气相对湿度:≤ 95 %,无结露

8、工作台

  设计:手动 X/Y 平台

  X/Y 平台*大移动范围:95 x 150 mm

  可用样品放?#20204;?#22495;:420 x 450 mm

  Z 轴:马达驱动

  Z 轴移动范围:140 mm

  样品*大重量:20kg

  样品*大高度:140 mm

  激光(1 级)定位点:有

9、计算单元

  a,计算机:带扩展卡的 Windows ® 计算机系统

  b,软件:标准: WinFTM ® V.6 LIGHT、可选: WinFTM ® V.6 BASIC,PDM,SUPER

  10、执行标准

  a,CE合格标准:EN 61010

  b,型式许可:作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合德国“Deutsche R?ntgenverordnung-R?V”法规的规定。



菲希尔x-ray荧光光谱仪/x射线测厚仪/光谱测厚仪/射线镀层检测仪FISCHERSCOPE ®X-RAY XDL ®230订货号:

FISCHERSCOPE X-RAY XDL230  604-496

如有特殊要求,可与FISCHER 磋商,定制特殊的XDL型号。

FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ® 是 Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen–Germany的注册商标。

其他检测仪器:瑞典兰宝紫外线灯铁素体含量检测仪


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